Micromètre à réseau 12,5x12,5/5:10 26 mm
Micromètre à réseau 12,5x12,5/5:10 d=26 mm
Micromètre à réseau 12,5x12,5/5:10 d=26 mm
Micromètre à réseau 10x10/5:10, d=21 mm
Se monte sur Stand M LED
Eclairage en transmission champ clair, oblique et fond noir par miroir
Miroir orientable
Modifie la hauteur du statif de 58mm
Système optique avancé ZEISS
Grossissement zoom 5:1 (0,8x à 4x)
Construction en matériaux dissipatifs électrostatiques (ESD) pour prévenir l'accumulation de charges statiques
Éclairage LED intégré pour la lumière incidente et transmise
Éclairage homogène et durable avec faible consommation d'énergie
Design compact et ergonomique pour une utilisation confortable
Commandes intuitives et faciles à atteindre
Compatible avec les caméras numériques ZEISS pour la capture et l'analyse d'images
Idéal pour l'industrie électronique, les inspections de semi-conducteurs, et les travaux de réparation de circuits imprimés
Distance de travail : 56 mm
Base plate ergonomique avec support de corps stéréomicroscope
Système de mise au point (crémaillère).
Sans éclairage
Monture pour intégrer le module d'éclairage en transmission
Alimentations intégrées pour éclairages
Avec 2 potentiomètres pour réglage de l'intensité lumineuse
Base large 340x300 mm avec interface pour platine XY
Insert blanc/noir et insert en verre
Hauteur crémaillère : 360 mm
Base plate ergonomique avec support corps stéréomicroscope
Système de mise au point à crémaillère
Potentiomètres de réglagle de l'intensité lumineuse
Eclairage LED en transmission (Champ clair et fond noir)
Electronique / alimentation pour éclairage en réflexion
Base : 310x200mm
Appui bras pour une meilleure ergonomie
Micromètre à réticule 10:100, d=21mm
Permet une distance de travail de 233 mm à 90 mm
Permet de faire varier la mise au point et le grossissement
Pour ZEISS STEMI 305 ou 508
Avec adaptateur
Avec roulettes, poignée télescopique et poignée latérale
Molettes de déplacements, pinces de blocage échantillon
Surface de travail : 116x137 mm
Mouvements XY : 50x75 mm
Pour éclairage en réflexion